ADQUISICIÓN Y ANÁLISIS DE IMAGEN

Disponemos de un Microscopio Electrónico de Barrido modelo SIGMA 300 VP de ZEISS de emisión de campo de cátodo caliente Schottky. Puede trabajar con tensiones entre 0,02 y 30 kV y tiene una resolución de 1.0 nm a 15 kV y 1.6 nm a 1 kV. La corriente de sonda varía entre 3 pA y 20 nA. El equipo cuenta con los típicos detectores de electrones secundarios (SE) y electrones retrodispersados (BSE), de rayos X (EDX), y además cuenta con un detector inLens de electrones secundarios y uno de electrones transmitidos (STEM). Permite trabajar tanto en alto vacío (HV) como con presión variable (VP, entre 10 y 133 Pa), para esto último incluye otro detector de electrones secundarios (VPSE). A su vez existe la posibilidad de realizar microscopía correlativa (CLEM) con microscopios ópticos/confocales. Dispone de una platina motorizada de 5 ejes (x, y, z, inclinación y rotación).

El equipo ha sido adquirido gracias a una Actuación cofinanciada por la Unión Europea a través del Programa Operativo del Fondo Europeo de Desarrollo Regional (FEDER) de la Comunitat Valenciana 2014-2020 (PROYECTO: IDIFEDER2018/020).

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Contacto: Enrique Rodríguez Cañas (e-mail: ; teléfono: 965 22 22 37)